
ISBN: 9789811931314
Код товара 153959
Thermal Reliability of Power Semiconductor Device in the Renewable Energy System

ISBN: 9789811931314
Код товара 153959
22 958 ₽
Доставка под заказ
Если Вы закажете книгу до 04.04.2025, то мы привезём её ориентировочно 16.05.2025.
-
Автор
Xiong Du
-
Издатель
Springer
-
Тип обложки
Hardback
-
Размеры
235 x 155
-
Год издания
2022
-
Вес (г)
488
-
ISBN
9789811931314
-
Язык
ENG
-
Кол-во страниц
172
О чём книга?
This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management. Theoretical analysis and experimental tests are presented to explain existing reliability improvement techniques. This book is a valuable reference for the students and researchers who pay attention to the thermal reliability design of power semiconductor device.
Introduction.- Thermal fatigue failure mechanism of power devices in renewable energy system.- Thermal model and thermal parameters monitoring.- Thermal analysis of power semiconductor device in renewable energy system.- Multi-time scale lifetime evaluati
Подпишись на рассылку
Подпишись на рассылку
Знание — сила
Обещаем делиться новинками, статьями, подборками и всем, что действительно важно
P.S. спамить — не в нашем стиле
1.14 s.
|
s.